高性能高純鍺（HPGe）同軸輻射探測器，用于安全保障和非破壞性分析

安全保障和非破壞性分析（NDA）應用中所需的精確同位素比率測量對伽馬射線和X射線光譜技術提出了嚴格的要求。對能量區(qū)域的選擇具體取決于樣品類型、源以及材料基質(zhì)。

為獲得高精度同位素比而編寫的國家實驗室軟件代碼必須能夠處理這些光譜以分析其中峰組緊靠在一起的低能量和/或高能量區(qū)域。每個代碼都需要的系統(tǒng)分辨率和穩(wěn)定性，以準確展開這些區(qū)域。

最近的安全保障發(fā)展趨勢促進了同位素比率測定需求的不斷增長，其中涉及到更高的能量伽馬射線。這需要測量衰減樣品，例如在廢物分析和某些國土安全應用中發(fā)現(xiàn)的樣品。現(xiàn)在，諸如FRAM和MGAHI的軟件代碼可以從光譜的較高能量區(qū)域確定Pu同位素比率。因此，希望生產(chǎn)這樣一種HPGe探測器，它既具有更高的能量性能，同時又能保持這些應用中所需的優(yōu)異分辨率特性。

ORTEC安全保障系列包括同軸和平面幾何探測器，專門設計用于滿足同位素比率測定中應用軟件的需求，可在低能量分辨率和高能效之間達到平衡。

SGD系列探測器與所有常規(guī)MCA型號兼容，與ORTEC數(shù)字信號處理光譜儀一起使用時可獲得性能。

所有SGD探測器都具有以下特點：

• 可選擇固定式、便攜式和定制低溫恒溫器，包括的MOD多方位杜瓦瓶選件。
• 堅固耐用的鋁制端蓋
• 精簡型前置放大器組件
• 無LN2選件

的低功耗電阻反饋前置放大器，具有“無環(huán)”輸出，適用于所有現(xiàn)有類型的MCA系統(tǒng)。在±12和±24 V時功耗小于25 mA

應用注意事項
對于厚壁容器中的樣品，或當存在顯著的基質(zhì)衰減時，可能需要使用更高的頻譜能量區(qū)域來進行分析。在這些情況下，開發(fā)了同軸或半同軸的SGD-GEM探測器，以在低能量分辨率和高能效之間達到平衡。

SGD-GEM-5050P4是用于FRAM的“傳統(tǒng)”同軸探測器，適用于各種情況，包括UF6鋼瓶的測量。

SGD-GEM-5030P4具有半平面幾何形狀，更加實用，可以替代“望遠鏡”探測器，在所謂的“雙探測器”模式下通常使用TRIFID和MGA代碼。最近在晶體和前置放大器技術方面的進步使得用單個SGD-GEM-5030P4探測器同時收集高能和低能光譜成為可能。

SGD-GEM-6560P4專門用于提供大面積探測器，滿足FRAM代碼的分辨率要求，具有良好的高能效和大探測面積。

SMART-1選件 (-SMP)
SMART-1選件用于監(jiān)控和報告重要的系統(tǒng)功能，還可保存驗證碼并在稍后報告該驗證碼。它包括高壓，因此所有儀器都不需要外部高壓電源。SMART-1采用堅固的ABS模塑塑料外殼，并通過模塑應變消除密封電纜牢牢地固定在探測器端蓋上。這可避免探測器因水分泄漏到高壓連接器中而受到嚴重損壞。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不會干擾屏蔽罩或其他安裝硬件。