高性能高純鍺（HPGe）平面輻射探測器，用于安全保障和非破壞性分析

安全保障和非破壞性分析（NDA）應用中所需的精確同位素比率測量對伽馬射線和X射線光譜技術(shù)提出了嚴格的要求。對能量區(qū)域的選擇具體取決于樣品類型、源以及材料基質(zhì)。

為獲得高精度同位素比而編寫的國家實驗室軟件代碼必須能夠處理這些光譜以分析其中峰組緊靠在一起的低能量和/或高能量區(qū)域。每個代碼都需要的系統(tǒng)分辨率和穩(wěn)定性，以準確展開這些區(qū)域。

最近的安全保障發(fā)展趨勢促進了同位素比率測定需求的不斷增長，其中涉及到更高的能量伽馬射線。這需要測量衰減樣品，例如在廢物分析和某些國土安全應用中發(fā)現(xiàn)的樣品。現(xiàn)在，諸如FRAM和MGAHI的軟件代碼可以從光譜的較高能量區(qū)域確定Pu同位素比率。因此，希望生產(chǎn)這樣一種HPGe探測器，它既具有更高的能量性能，同時又能保持這些應用中所需的優(yōu)異分辨率特性。

ORTEC安全保障系列包括同軸和平面幾何探測器，專門設計用于滿足同位素比率測定中應用軟件的需求，可在低能量分辨率和高能效之間達到平衡。

SGD平面探測器與所有常規(guī)MCA型號兼容，與ORTEC數(shù)字信號處理光譜儀一起使用時可獲得性能。

所有SGD平面探測器都具有以下特點：

• 可選擇固定式、便攜式和定制低溫恒溫器，包括的MOD多方位杜瓦瓶選件。
• 堅固耐用的鋁制端蓋
• 精簡型前置放大器組件
• 無LN2選件

的低功耗電阻反饋前置放大器，具有“無環(huán)”輸出，適用于所有現(xiàn)有類型的MCA系統(tǒng)。在±12和±24 V時功耗小于25 mA

應用注意事項
對于涉及驗證申報材料值的安全保障核實測量，在專門設計的薄壁容器中通常采用純樣品。這發(fā)生在采用便攜式系統(tǒng)的常規(guī)安全保障檢查程序中。

SMART-1選件 (-SMN)
SMART-1選件用于監(jiān)控和報告重要的系統(tǒng)功能，還可保存驗證碼并在稍后報告該驗證碼。它包括高壓，因此所有儀器都不需要外部高壓電源。SMART-1采用堅固的ABS模塑塑料外殼，并通過模塑應變消除密封電纜牢牢地固定在探測器端蓋上。這可避免探測器因水分泄漏到高壓連接器中而受到嚴重損壞。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不會干擾屏蔽罩或其他安裝硬件。